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泰勒霍普森Surtronic DUO便攜式粗糙度儀信息
點擊次數(shù)：184 更新時間：2025-12-04
泰勒霍普森Surtronic DUO是一款革命性的便攜式表面粗糙度測量儀，采用創(chuàng)新的分體式設計將驅動單元與顯示單元物理分離。該儀器符合ISO 4287、ASME B46.1等多國標準，兼具實驗室級別的測量精度與現(xiàn)場檢測的便攜性，重量僅1.2kg的顯示單元可單獨攜帶進行參數(shù)設置與數(shù)據(jù)讀取，有效擴展了工業(yè)現(xiàn)場質量控制的作業(yè)半徑。
核心技術特性
雙模塊架構：驅動單元內(nèi)置高精度導程機構，確保穩(wěn)定勻速的探頭掃描；顯示單元配備3.5英寸彩色觸摸屏，支持手套操作模式
參數(shù)覆蓋全面：同步測量Ra、Rz、Rq、Rt、Rp、Rv、Rsk、Rku、Rsm、Rmr等16個粗糙度參數(shù)，滿足復雜表面表征需求
智能校準系統(tǒng)：集成快速自動校準功能，配備RCG-H10標準校準塊，全程校準時間＜2分鐘
環(huán)境適應性：防護等級IP64，抗電磁干擾能力強，在機加工車間、裝配線等復雜工況下保持測量穩(wěn)定性
應用場景詳解
在汽車發(fā)動機缸體珩磨檢測中，Surtronic DUO可同時測量平臺網(wǎng)紋與溝槽深度；航空航天領域用于渦輪葉片榫槽粗糙度驗證時，其分離式設計允許檢測人員在不拆卸部件的情況下完成狹小空間測量。醫(yī)療器械行業(yè)特別青睞其對植入物表面Ra（0.01-50μm）和Rz的高分辨率測量能力，配合泰勒霍普森專屬分析軟件可實現(xiàn)骨科植入物多參數(shù)質量追溯。
